摘要：對(duì)取向電工鋼SST（82）和SST（92）單片測(cè)試方法的差異進(jìn)行分析,并對(duì)兩者間的測(cè)量偏差進(jìn)行量化評(píng)價(jià)。結(jié)果表明：SST（92）單片測(cè)試方法測(cè)量比總損耗較SST（82）平均偏高5.03%左右,這主要是因?yàn)镾ST（82）單片測(cè)試方法的有效磁路長(zhǎng)度不固定,且離散性較大,而有效磁路長(zhǎng)度主要跟單片磁軛有關(guān)。另外,直接測(cè)量試樣磁場(chǎng)強(qiáng)度的H線圈方法由于規(guī)避了有效磁路長(zhǎng)度的影響,可視為一種可靠的替代方法。